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产品名称:

电子元件冷热冲击试验机

产品简介:电子元件冷热冲击试验机适用于航天、、 舰船、电工、电子、仪器仪表;医疗器械;民用核能;高等院校;科研实验所;商检仲裁、技术监督部门;建材陶瓷;石油化工等产品、整机及零部件的高低温冲击试验
  • 更新时间:2020-03-09
  • 厂商性质:生产厂家
  • 产品品牌:其他品牌
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产品概述
品牌其他品牌适用领域科研
温度范围-65-150℃温度波动度1℃
湿度范围20-98% R.H额定电压380V
产地国产加工定制

一、电子元件冷热冲击试验机简介

该系列产品适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、车辆、金属、电子产品、各种电子元气件、电线、电缆等在高低温快速交变环境下,确定组件、设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力.

二、电子元件冷热冲击试验机技术参数:

型号

BS-40H

BS-80H

BS-150H

BS-200H

BS-252H

内箱尺寸W*H*D(mm)

400*350*300

500*400*400

600*500*500

600*600*550

700*600*600

外箱尺寸W*H*D(mm)

1100*1930*1450

1200*2000*1550

1300*1230*1670

1300*2500*1700

1400*2630*1750

重量(KG)

500

700

900

1100

1300

温度范围

 

(A-45℃  B-55℃  C-65℃    高温区:+60℃-150℃   低温区:-10℃--65℃  )

升温时间(蓄热区)

RT-200℃约35min

降温时间(蓄冷区)

RT—70℃约55min

温度回复/切换时间

≤5min   /  ≤10sec以内

温度精度/分布精度

±0.5℃     ±2.5% ℃

冷却方式

风、水冷式/双断压缩机

电源

 AC380V+±10%V 50HZ/60HZ

 

 

三、冷热冲击试验箱执行与满足标准:

  1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;
  2、GB/T2423.2-2001;
  3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;
  4. 国GJB150.3-86;
  5. 国GJB150.4-86;
  6. 国GJB150.5-86;
  7、GJB150.5-86温度冲击试验;
  8、GJB360.7-87温度冲击试验;
  9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;
  10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式;
  11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;
  12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;

 

 

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