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产品名称:

电子元器件温度冲击试验机

产品简介:电子元器件温度冲击试验机用于航空航天、军用单位、电工电子、仪器仪表、材料设备、零部配件等模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等,同时可通过此试验,进行产品的质量控制。
  • 更新时间:2020-03-14
  • 厂商性质:生产厂家
  • 产品品牌:其他品牌
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产品概述
品牌其他品牌适用领域科研
温度范围-65-150℃温度波动度1℃
湿度范围20-98% R.H额定电压380V
产地国产加工定制

一、电子元器件温度冲击试验机控制系统:

1.控制程序的编制采用人机对话方式,仅需设定温度,就可实现制冷、制热自动运行功能,控制系统具备完善的检测装置能自动进行详细的故障显示及报警;

2.所有电器均采用(施耐德)系列产品温度控制采用P.I.D+S.S.R系统同频道协调控制,具有自动演算的功能,可将温度变化条件立即修正,使温度控制更为精确稳定;

3.控制器操作界面设中英文可供选择,实时运转曲线图可由屏幕显示,资料及试验条件输入后,控制器具有荧屏锁定功能,避免人为触摸而停机.具有RS-232通讯界面,可在电脑上设计程式,监视试验过程并执行自动开关机、控制器具有荧屏自动屏保功能,在长时间运行状态下更好的保护液晶屏(使其寿命更长久)

 

二、高低温冲击试验箱执行标准以及满足试验方法:

1. GJB150.5A-2009温度冲击试验

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验

第2部分:试验方法温度变化试验导则

4. GJB360B-2009温度冲击试验

 

三、电子元器件温度冲击试验机空气循环风道:

内置高温区、低温区空气间,内置加热器、制冷蒸发器及循环风机,高温冲击时,高温热空气由循环风机搅拌均匀后经过出风口百叶窗调节风向均匀的通过吊篮样品区然后从回风口回收,强制热风循环,低温冲击时,冷空气由循环风机搅拌均匀后经过出风口百叶窗调节风向均匀的通过吊篮样品区然后从回风口回收,强制冷空气循环。高温区及低温区气流循环系统独立,中间通过吊篮切换,将吊篮在高温区和低温区之间通过气缸往复推动,从而达到温度快速交变和室内温度均匀分布

 

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